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LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)，用于測量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強(qiáng)激光照射下，材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象（熱透鏡效應(yīng)），當(dāng)一束探測光經(jīng)過“熱透鏡”效應(yīng)區(qū)域時(shí)發(fā)生位置偏移，通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。